天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營模式:生產(chǎn)加工
地址:天津市西青經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)賽達(dá)九緯路七號電子城大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)園10號樓314-315室
主營:測試儀器
業(yè)務(wù)熱線:022-58530359
QQ:89244198
許多現(xiàn)代器件沒有同軸連接,需要通過夾具來連接同軸儀器,如使用探頭來測量晶圓上器件,或是用夾子固定小型器件并連接到同軸適配器等。器件與儀器間的物體會(huì)給測量結(jié)果帶來不確定性。消除夾具影響的校準(zhǔn)步驟非常繁瑣,還需要使用專門的校準(zhǔn)件。自動(dòng)夾具移除功能提供了一個(gè)向?qū)С绦颍梢砸龑?dǎo)你完成設(shè)置,并代替你完成所有測量和校正操作。你甚至可以導(dǎo)出嵌入的文件,將夾具移除功能立即應(yīng)用到其他儀器上。
兩個(gè)內(nèi)置信號源的性能增強(qiáng)也會(huì)簡化放大器和混頻器測量。例如,測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm(取決于型號和頻率)。這對將放大器驅(qū)動(dòng)到非線性區(qū)很有幫助,并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時(shí)也經(jīng)常要這樣。這兩個(gè)內(nèi)置信號源的諧波成分也非常低(通常為–60 dBc 或更低),從而提高諧波和IMD測量的精度。此外,典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時(shí)很容易就可以讓放大器從線性工作范圍轉(zhuǎn)化到非線性工作范圍。
內(nèi)部信號源也可用于測試頻率轉(zhuǎn)換器件如混頻器或變頻器,測試時(shí)除輸入激勵(lì)之外還需要LO信號。第二個(gè)信號源對掃描LO測試十分有用,在測試時(shí)LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描,但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比,使用從VNA內(nèi)部信號源引出的信號作為LO信號在測試速度上有幾位明顯的改善(使用PNA-X的測試速度比傳統(tǒng)方法的測試速度可5倍)。
吳經(jīng)理先生
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